کارت اعتباری کتاب دانلود با 5,000,000 اعتبار دانلود کتاب! کلیک کنید
Applications and Metrology at Nanometer Scale, Volume 1: Smart Materials, Electromagnetic Waves and Uncertainties
Pierre-Richard Dahoo, Philippe Pougnet, Abdelkhalak El Hami, 1786306409, 9781786306401
English | 2021 | PDF